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Elektrophysik上海代理MiniTest4100測厚儀
EPK測厚儀MiniTest4100提供不同的處理測量值的可能性。可以連接不同的探頭?？赏ㄟ^紅外連接口傳輸處理數(shù)據(jù)，連接打印機和計算機。適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭，所有的探頭都配備了耐磨桿，確保使用壽命長，也適用于磨料基板。可以透過涂層進行校準（CTC） ，在粗糙表面上作平均零校準 ，利用計算機進行基礎(chǔ)校準
校準和測量
EPK測厚儀MiniTest4100透過涂層進行校準（CTC） ，在粗糙表面上作平均零校準 ，利用計算機進行基礎(chǔ)校準 ，補償一個常數(shù)（Offset） ，外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 ，保護并鎖定校準設(shè)置 ，更換電池是存儲數(shù)值 ，設(shè)置極限值 ，公英制轉(zhuǎn)換 ，連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 ，連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) ，浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 ，組內(nèi)單值延遲顯示 ，連續(xù)測量模式中顯示zui小值
技術(shù)參數(shù)
型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 |
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
為了選擇“正確的”探頭，要測量的涂層的厚度以及基底的厚度并且必須考慮幾何形狀。 ElektroPhysik提供一系列適用于標準和特殊應(yīng)用的探頭。對于鋼的測量，使用磁感應(yīng)原理，允許測量所有絕緣涂層， G，油漆，搪瓷等，以及鋼鐵和黑色金屬上的有色金屬。以磁感應(yīng)原理工作的探頭稱為F探頭。對于有色金屬上的絕緣涂層的測量，使用渦流原理。根據(jù)該原理工作的探針稱為N-探頭。除了不同型號的常規(guī)探頭外，還可以根據(jù)要求提供特殊的探頭型號包括在潮濕地區(qū)使用的*密封探頭；和溫度高達250°C和350°C適用的耐熱探頭。
非破壞性測量覆蓋以下測量范圍：
0 - 50mm鋼無磁性涂料
0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
10-200µM絕緣基材銅層
0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料
EPK測厚儀MiniTest4100，所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | zui小曲率 半徑(凸/凹) | zui小測量 區(qū)域直徑 | zui小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
| 磁 感 應(yīng) 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm N50μm | φ15x62mm | |
| 電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
測量注意事項：
1.為了減少測量體材質(zhì)對測量精度的影響。建議采用不帶涂層的測量體或與測量體材質(zhì)相同的標準試塊作為校準用基準塊。
2.測量完畢，輕按一下電源鍵，關(guān)斷整機電源，并在測量頭的觸頭及基準塊上涂少許油脂以防生銹。
3.本儀器有自動關(guān)機功能如不進行任何操作大約一分鐘后就自動關(guān)機。
4.儀器應(yīng)防止劇烈震動、撞擊。使用后應(yīng)擦凈儀器表面油污放入儀器箱內(nèi)妥善保存。
5.嚴禁敲擊或碰撞探頭以免影響探頭性能；嚴禁捏住探頭尾部測量。
