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MiniTest 7400高性能測(cè)厚儀特惠

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MiniTest 7400高性能測(cè)厚儀特惠

種類繁多的可輕松更換探頭（探頭厚度從0.5mm~35mm），滿足各種厚度測(cè)試應(yīng)用要求，兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料，與測(cè)試物表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供zui終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

MiniTest內(nèi)存容量

應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量10

每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)器的批次數(shù)

具有單個(gè)值記憶的批次數(shù)量100

單個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000

統(tǒng)計(jì)

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。

塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

從同一應(yīng)用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）

分別將值和統(tǒng)計(jì)打印到APPL-BATCH組

顯示和打印輸出和測(cè)量時(shí)的日期和時(shí)間（年，月，日，小時(shí)，分鐘）

校準(zhǔn)方法

通過(guò)涂層校準(zhǔn)（CTC）

粗糙表面測(cè)量。幾乎可以消除粗糙度的影響

OFFSET函數(shù)添加或減少常量值

外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲(chǔ)器

鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn)

電池更換期間保存讀數(shù)

限制設(shè)置

測(cè)量單位為微米或密耳

MiniTest 7400高性能測(cè)厚儀特惠

1.精度高，涂層厚度測(cè)量可達(dá)15 mm，更換探頭測(cè)量厚度可達(dá)35mm。

2.儀器配備可提高準(zhǔn)確度和再現(xiàn)性通過(guò)傳感器來(lái)實(shí)現(xiàn)集成的數(shù)字信號(hào)處理（SIDSP）

3.通用探頭，允許自動(dòng)基板檢測(cè)鋼鐵和有色金屬快速測(cè)量

4.優(yōu)化的溫度補(bǔ)償

5.多達(dá)50個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的高精度的特性曲線

6.可存儲(chǔ)多達(dá)250000個(gè)讀數(shù).

7.可存儲(chǔ)500組數(shù)據(jù)記憶.

8.160*160相素LCD帶背光顯示器.

9.用戶界面多達(dá)25種語(yǔ)言(含中文) 。

10.紅外數(shù)據(jù)傳輸（IrDA）的PC打印機(jī)。

ElektroPhysik是表面技術(shù)測(cè)量?jī)x的制造商之一。成立于1947年的ElektroPhysik開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)廣泛的精密測(cè)量?jī)x在總部在科隆。

質(zhì)量是ElektroPhysik的主要任務(wù)。憑借基于ISO 9001：2008的質(zhì)量體系，該體系是從開(kāi)發(fā)到每個(gè)產(chǎn)品的使用和服務(wù)的整個(gè)周期的基礎(chǔ)，它的目標(biāo)是為每個(gè)應(yīng)用提供合適的產(chǎn)品。

ElektroPhysik創(chuàng)立了其在不斷開(kāi)發(fā)創(chuàng)新技術(shù)和產(chǎn)品方面的聲譽(yù)。作為與和機(jī)構(gòu)和大學(xué)合作的非破壞性涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的者，ElektroPhysik成功地開(kāi)發(fā)和標(biāo)準(zhǔn)化的涂層厚度測(cè)量。

此外，未來(lái)ElektroPhysik將竭盡全力開(kāi)發(fā)滿足zui高技術(shù)要求的產(chǎn)品。

：張磊

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公司地址：上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號(hào)