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MiniTest 7400測(cè)厚儀EPK*研制

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MiniTest 7400測(cè)厚儀EPK研制

測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類(lèi)儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：

==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER便攜式涂鍍層測(cè)厚儀、X射線鍍層測(cè)厚儀；

==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>量博LAB GAGES 全自動(dòng)零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng)；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測(cè)中心；
==>>海克斯康三坐標(biāo)、ROMER關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)；
==>>瑞士TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>德國(guó)斯派克SPECTRO直讀光譜儀、德國(guó)布魯克Bruker火花光譜儀；
==>>德國(guó)EPK手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>英國(guó)施泰力Starrett光學(xué)投影儀；
==>>量博LAB全自動(dòng)顯微硬度測(cè)試系統(tǒng)、布洛維硬度機(jī)、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀；
==>>量博工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、金相制樣設(shè)備；
==>>美國(guó)雷泰Raynger紅外測(cè)溫儀；
==>>美國(guó)OGP多傳感影像測(cè)量?jī)x；

篤摯儀器代理供應(yīng)，EPK高精度涂層測(cè)厚儀。創(chuàng)新的用戶界面概念與高度便利的數(shù)據(jù)管理相結(jié)合，使新的MiniTest 7400成為當(dāng)今測(cè)量系統(tǒng)的理想解決方案。 特點(diǎn)包括多種外部探頭; 500數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器; zui多存儲(chǔ)250000個(gè)值等圖形顯示允許直接顯示統(tǒng)計(jì)值，趨勢(shì)圖，直方圖和簡(jiǎn)化用戶指導(dǎo)。
MiniTest 7400涂層厚度計(jì)裝置可以測(cè)量鐵磁性基材（鋼）上的非磁性涂層（涂料，合成材料，鉻等）和絕緣涂層（清漆，搪瓷，合成材料等）導(dǎo)電基材（鋁 ，銅，不銹鋼）。

MiniTest 7400測(cè)厚儀EPK研制

總體概述：
多種外部探頭
500數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器
zui多存儲(chǔ)250000個(gè)值

應(yīng)用
無(wú)損涂層厚度測(cè)量：
非磁性涂層，例如油漆，搪瓷，鉻鋼
絕緣涂層，例如有色金屬涂料和陽(yáng)極氧化涂料

性能特點(diǎn)

高精度涂層厚度測(cè)量高達(dá)15毫米/ 600密耳
傳感器集成數(shù)字信號(hào)處理（SIDSP）提高了精度和重現(xiàn)性
具有自動(dòng)基板檢測(cè)功能的通用探頭可以快速測(cè)量鋼鐵和有色金屬
幾何無(wú)限壽命的耐磨探頭
優(yōu)化溫度補(bǔ)償
高精度特征曲線，zui多可達(dá)50個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)
zui多存儲(chǔ)100000個(gè)值
zui多25種語(yǔ)言的用戶界面
紅外數(shù)據(jù)傳輸（IrDA）到PC和打印??機(jī)
供貨范圍
Gauge MiniTest 7400
軟件MSoft 7 Professional
說(shuō)明手冊(cè)德文/英文/法文和西班牙文
簡(jiǎn)短說(shuō)明
4個(gè)AA細(xì)胞，類(lèi)型LR06
塑料手提箱

MiniTest 7400測(cè)厚儀EPK研制